extended boundary scan test using hybrid test vectors
play

Extended Boundary Scan Test Using Hybrid Test Vectors Presented - PowerPoint PPT Presentation

Extended Boundary Scan Test Using Hybrid Test Vectors


  1. ������ ������ ������ ������ ����������������������������������� � Extended Boundary Scan Test Using Hybrid Test Vectors Presented by: Jan Heiber GOEPEL electronic GmbH EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 1

  2. ������ ������ ������ ������ Overview � Boundary Scan net test coverage � Reduced testability of edge connector nets � Extended Boundary Scan test coverage without HYSCAN TM and its limits � Extended Boundary Scan test coverage with HYSCAN TM � HYSCAN TM in software EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 2

  3. ������ ������ ������ ������ Boundary Scan Test Strategy C I O O I C C O I ����������������������� ��������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 3

  4. ������ ������ ������ ������ Reduced Testability POWER IEEE1149.1 RAM 1...4 DISPLAY TDI (LED / LCD) A A A µP D D D Buffer C C C (RAM) CLK TDO FLASH 1...2 RS232 A D C TDI C (FLASH) PLD CLK TDO Board revision? CLUSTER UUT ������������� �������������!��������������������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 4

  5. ������ ������ ������ ������ Extended Boundary Scan Test C C I O O O I I C I C C O O O C I I ��������������������������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 5

  6. ������ ������ ������ ������ Extended Boundary Scan Test POWER IEEE1149.1 IEEE1149.1 RAM 1...4 DISPLAY TDI (LED / LCD) A A A µP D D D Buffer TDI C C C (RAM) BScan CLK TDO TDO FLASH 1...2 RS232 RS232 A TDI D BScan C TDO TDI C (FLASH) PLD TDI BScan CLK TDO TDO Board revision? CLUSTER UUT Customer specific adapter ��������������������������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 6

  7. ������ ������ ������ ������ Extended Boundary Scan Test � Advantages � Higher coverage than with stand alone UUT � Better diagnostics � Limits � Speed issue with serial test extension � Single adapter type during test development and execution � Adjustments require re-generation of all automatic test vectors � Statistic discrepancies in analysis and reports EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 7

  8. ������ ������ ������ ������ Why Discrepancies? "#�!���$ %%& ������&������������ &�����������! ��$ '() )*+ &�������!����! ��$ )*�,���������- * 2���� ����!�����$�03��������������������� %%&�.�������&������������ &�����������! ��$ /01 &�������!����! ��$ +( EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 8

  9. ������ Extended Boundary Scan Statistics ������ ������ ������ "#�!���$ %%& %%& .�������&����������� ���������������� $ &�����������! ��$ '()�,'334- /)0�,'334- ������������! ��$ ''(�,1'504- +*/�,6'504- ���� ,��������-$ 7�!����������� ��$ ''�,''514- )'�,(514- ��������� ����� ��$ 1/�,16514- +0+�,6'5(4- 8�������� ��$ *�,*5/4- *�,'514- EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 9

  10. HYSCAN TM – Hybrid Scan ������ ������ ������ ������ � Synchronized serial and parallel test vectors � Independencies between UUT and test accessories EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 10

  11. ������ Extended Boundary Scan Statistics ������ ������ ������ "#�!���$ %%& %%& .�������&���������������%%&�.�9:�7�8 &2 ���������������� $ &�����������! ��$������'()�,'334- /)0�,'334- '()�,'334- ������������! ��$����''(�,1'504- +*/�,6'504- ''(�,1'504- ���� ,��������-$ 7�!����������� ��$�������''�,''514- )'�,(514- )'�,))4- ��������� ����� ��$ 1/�,16514- +0+�,6'5(4- //�,/*5/4- 8�������� ��$ *�,*5/4- *�,'514- *�,*5/4- EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 11

  12. HYSCAN TM – Test Channel ������ ������ ������ ������ Requirement: � Bi-directional pin behavior � Enable / disable capabilities � Software controlled test channels Nice to have: � Wide voltage range � High current supply � Test channels may even be Boundary Scan pins EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 12

  13. HYSCAN TM – Principle ������ ������ ������ ������ �:�&"2�7��7�8 &2 &����������!�,7����8- 7��<��5 7�!������&����������!��#������� &����������� &����������� &����������� 2����� 2����� !����� ;�#������������ ������������� ����������������>��������<�=��� ����������������>��������<�=��� ���������������<�=��� ������������������������<�=��� � Support of different types of pin electronic during the whole product life cycle due to exchangeable driver software and test channel mapper EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 13

  14. HYSCAN TM – Test Generation ������ ������ ������ ������ � Step1: Define the virtual adapter Project A � Step2: Add UUT access points Tester Configuration X � Step3: Generate test(s) with(out) test Tester Configuration Y channels � Step4: Replace virtual test channels by the real adapter (wiring list) PC 1 PC 2 Tester Tester Configuration X Configuration Y EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 14

  15. ������ ������ ������ ������ Definition Of The Virtual Adapter Step 1 Define Virtual Test Channels � Simplify interface for test enhancement via edge connectors and test points EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 15

  16. ������ ������ ������ ������ UUT Access Points Step 2 Add UUT Access Points ,0-��������������,�- ,+-������������ ,'-�>�<����<����� ,)-�>�<����<����� ,/-�&����������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 16

  17. ������ ������ ������ ������ Test Generation Step 3 Test Generation with/without test channels LDI U2, Sample; LDI U1, Sample; LDI U_DIO, Sample; IRSHIFT; (* Stuck-At-Low Test (will set all lines at high). *) (* 5 test steps. *) -- Disable pins DL (U2:IO34/C, IO33/C, IO31/C, IO28/C, IO27/C, IO25/C); DL ( IO11/C, IO10/C, IO8/C, IO6/C, IO5/C, IO3/C); ... DL (U_DIO:TC[10]/C, TC[11]/C); EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 17

  18. ������ ������ ������ ������ Wiring List Step 4 Wiring list = replacement of virtual test channels by real test channels ������!�����<��������� ?���������������������� ���������������=�� %%&������������ >��������@��������@�<��� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 18

  19. ������ ������ ������ ������ Conclusions � Exchangeability between different adapter types � More accurate results and statistics while achieving same coverage � Test coverage estimations (with and without adapting connector nets) � HYSCAN TM keeps UUT and adaptor separated � Boundary Scan tests independent from the test adapter � Independency between test program developer and executor � Basically for all adapter types using bi-directional pin electronic � Controlling different adapter types via DLL EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 19

Recommend


More recommend