������ ������ ������ ������ ����������������������������������� � Extended Boundary Scan Test Using Hybrid Test Vectors Presented by: Jan Heiber GOEPEL electronic GmbH EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 1
������ ������ ������ ������ Overview � Boundary Scan net test coverage � Reduced testability of edge connector nets � Extended Boundary Scan test coverage without HYSCAN TM and its limits � Extended Boundary Scan test coverage with HYSCAN TM � HYSCAN TM in software EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 2
������ ������ ������ ������ Boundary Scan Test Strategy C I O O I C C O I ����������������������� ��������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 3
������ ������ ������ ������ Reduced Testability POWER IEEE1149.1 RAM 1...4 DISPLAY TDI (LED / LCD) A A A µP D D D Buffer C C C (RAM) CLK TDO FLASH 1...2 RS232 A D C TDI C (FLASH) PLD CLK TDO Board revision? CLUSTER UUT ������������� �������������!��������������������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 4
������ ������ ������ ������ Extended Boundary Scan Test C C I O O O I I C I C C O O O C I I ��������������������������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 5
������ ������ ������ ������ Extended Boundary Scan Test POWER IEEE1149.1 IEEE1149.1 RAM 1...4 DISPLAY TDI (LED / LCD) A A A µP D D D Buffer TDI C C C (RAM) BScan CLK TDO TDO FLASH 1...2 RS232 RS232 A TDI D BScan C TDO TDI C (FLASH) PLD TDI BScan CLK TDO TDO Board revision? CLUSTER UUT Customer specific adapter ��������������������������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 6
������ ������ ������ ������ Extended Boundary Scan Test � Advantages � Higher coverage than with stand alone UUT � Better diagnostics � Limits � Speed issue with serial test extension � Single adapter type during test development and execution � Adjustments require re-generation of all automatic test vectors � Statistic discrepancies in analysis and reports EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 7
������ ������ ������ ������ Why Discrepancies? "#�!���$ %%& ������&������������ &�����������! ��$ '() )*+ &�������!����! ��$ )*�,���������- * 2���� ����!�����$�03��������������������� %%&�.�������&������������ &�����������! ��$ /01 &�������!����! ��$ +( EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 8
������ Extended Boundary Scan Statistics ������ ������ ������ "#�!���$ %%& %%& .�������&����������� ���������������� $ &�����������! ��$ '()�,'334- /)0�,'334- ������������! ��$ ''(�,1'504- +*/�,6'504- ���� ,��������-$ 7�!����������� ��$ ''�,''514- )'�,(514- ��������� ����� ��$ 1/�,16514- +0+�,6'5(4- 8�������� ��$ *�,*5/4- *�,'514- EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 9
HYSCAN TM – Hybrid Scan ������ ������ ������ ������ � Synchronized serial and parallel test vectors � Independencies between UUT and test accessories EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 10
������ Extended Boundary Scan Statistics ������ ������ ������ "#�!���$ %%& %%& .�������&���������������%%&�.�9:�7�8 &2 ���������������� $ &�����������! ��$������'()�,'334- /)0�,'334- '()�,'334- ������������! ��$����''(�,1'504- +*/�,6'504- ''(�,1'504- ���� ,��������-$ 7�!����������� ��$�������''�,''514- )'�,(514- )'�,))4- ��������� ����� ��$ 1/�,16514- +0+�,6'5(4- //�,/*5/4- 8�������� ��$ *�,*5/4- *�,'514- *�,*5/4- EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 11
HYSCAN TM – Test Channel ������ ������ ������ ������ Requirement: � Bi-directional pin behavior � Enable / disable capabilities � Software controlled test channels Nice to have: � Wide voltage range � High current supply � Test channels may even be Boundary Scan pins EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 12
HYSCAN TM – Principle ������ ������ ������ ������ �:�&"2�7��7�8 &2 &����������!�,7����8- 7��<��5 7�!������&����������!��#������� &����������� &����������� &����������� 2����� 2����� !����� ;�#������������ ������������� ����������������>��������<�=��� ����������������>��������<�=��� ���������������<�=��� ������������������������<�=��� � Support of different types of pin electronic during the whole product life cycle due to exchangeable driver software and test channel mapper EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 13
HYSCAN TM – Test Generation ������ ������ ������ ������ � Step1: Define the virtual adapter Project A � Step2: Add UUT access points Tester Configuration X � Step3: Generate test(s) with(out) test Tester Configuration Y channels � Step4: Replace virtual test channels by the real adapter (wiring list) PC 1 PC 2 Tester Tester Configuration X Configuration Y EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 14
������ ������ ������ ������ Definition Of The Virtual Adapter Step 1 Define Virtual Test Channels � Simplify interface for test enhancement via edge connectors and test points EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 15
������ ������ ������ ������ UUT Access Points Step 2 Add UUT Access Points ,0-��������������,�- ,+-������������ ,'-�>�<����<����� ,)-�>�<����<����� ,/-�&����������������������� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 16
������ ������ ������ ������ Test Generation Step 3 Test Generation with/without test channels LDI U2, Sample; LDI U1, Sample; LDI U_DIO, Sample; IRSHIFT; (* Stuck-At-Low Test (will set all lines at high). *) (* 5 test steps. *) -- Disable pins DL (U2:IO34/C, IO33/C, IO31/C, IO28/C, IO27/C, IO25/C); DL ( IO11/C, IO10/C, IO8/C, IO6/C, IO5/C, IO3/C); ... DL (U_DIO:TC[10]/C, TC[11]/C); EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 17
������ ������ ������ ������ Wiring List Step 4 Wiring list = replacement of virtual test channels by real test channels ������!�����<��������� ?���������������������� ���������������=�� %%&������������ >��������@��������@�<��� EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 18
������ ������ ������ ������ Conclusions � Exchangeability between different adapter types � More accurate results and statistics while achieving same coverage � Test coverage estimations (with and without adapting connector nets) � HYSCAN TM keeps UUT and adaptor separated � Boundary Scan tests independent from the test adapter � Independency between test program developer and executor � Basically for all adapter types using bi-directional pin electronic � Controlling different adapter types via DLL EBTW 2005, Tallinn, Estonia Slide 19
Recommend
More recommend